用于玻璃鋼化設備的Optris自下而上玻璃檢測系統
自下而上玻璃檢測系統的應用 新型自下而上GIS采用新方法解決了這個問題。通過在鋼化線下方安裝兩臺紅外成像儀,不斷測量玻璃非鍍膜高輻射率一面的溫度。紅外技術的發展促進了新型緊湊型成像儀的開發,使這種成像儀有可能安裝在下方,這是以前使用笨重的老式線掃描儀時無法想象的。 兩臺視場為111°的VGA成像儀相結合,在掃描寬度為4.3米的情況下,可獲得出色的1600像素掃描線分辨率。 除了確定溫度分布外,該系統還計算玻璃表面積。 曝光時間為90µs的超高速CTlaser 4M高溫計和數控鏡頭保護系統(DCLP)相結合,為兩臺紅外熱像儀在玻璃破碎時提供可靠保護。這些快門還增加了清洗光學元件的維護間隔,并完全消除使用壓縮空氣對光學元件進行額外且耗時吹掃的需要。
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