optris PI紅外熱像儀
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optris PI紅外熱像儀
optris® PI 08M 熱像儀
optris PI 08M 紅外測溫儀的應用領域范圍： optris PI 08M 短波長紅外熱像儀可以很好地阻擋 800 nm 以上的輻射，非常適用于激光加工應用。光譜范圍為 800 nm，受到周圍環境影響的可能性較小，因此即使面對不斷變化的發射率，也可以確保測量精確。
詳細介紹
技術參數
資料下載
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1900 °C 高溫激光應用專用紅外熱像儀
新研發的 optris® PI 08M 熱像儀的光譜范圍為 800 nm，可減少因未知或變化的發射率引起的測量誤差。這款紅外熱像儀結構緊湊，由于其光譜范圍以及 575 °C 到 1900 °C 的連續測量范圍，幾乎適用于所有的 NIR 和 CO2 激光加工應用。
幀率為 1 kHz，并具有較高的光學分辨率，能夠最佳地適應不同的應用程序。
主要參數：
特殊窄帶光譜響應為 800 nm，
幾乎是所有 NIR 和 CO2 激光加工應用的理想之選
廣泛的測量范圍：
575 °C 至 1900 °C，無子范圍
高動態 CMOS 檢測器，分辨率高達 764 x 480 像素
高達 1 kHz 幀率的快速處理
實時模擬輸出，響應時間為 1 ms
包括功能強大的軟件包和 SDK
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optris PI 08M 的技術參數
• 供貨范圍：
USB攝像頭包括 1個鏡頭，
鏡頭有保護窗，
USB 電纜（1 m），
三腳架，
包括端子塊的PIF電纜（1 m），
Optris PI Connect軟件包
鋁箱
選配: 冷卻套，耐高溫電纜
• 探測裝置： CMOS (15 μm x 15 μm)
• 光學分辨率（可切換）/幀率：
764 x 480 像素 @ 32 Hz
382 x 288 像素 @ 80 Hz（可切換至 27 Hz）
72 x 56 像素 @ 1 kHz
764 x 8 像素 @ 1 kHz（快速線掃描模式）
• 光譜范圍： 800 nm
• 溫度量程：
575 ...1900 °C（27 Hz 模式）
625 ...1900 °C（80 Hz 和 32 Hz 模式）
750 ...1900 °C（1 kHz 模式）
• 光學分辨率：
FOV @ 382 x 288 px：
13° x 10° (f = 25 mm)
FOV @ 764 x 480 px：
26° x 16° (f = 25 mm)
• 熱敏性 (NETD)1)：
27 Hz、32 Hz 和 80 Hz 模式 <2 K (1000 °C)
1 kHz 模式 <3 K (1400 °C)
• 精度：讀數 ±1 %(<1500 °C)/ ±1.5 % (>1500 °C)
• PC 接口：USB 2.0/USB 至 GigE (PoE) 轉換選件
• 高速模擬輸出（@ 1 kHz 模式）：
8x8 像素的 0–10 V 實時輸出（響應時間 1 ms）
• 標準過程接口 (PIF)：
0–10 V 輸入、數字輸入（最高 24 V）、0 – 10 V 輸出
• 可選工業過程接口 (PIF)：
2x 0-10 V 輸入、數字輸入（最高 24 V）、3x 0–10 V 輸出
3x 繼電器（0 – 30 V/400 mA），故障安全繼電器
• 電纜長度 (USB)：
1 m（標準）、5 m、10 m
5 m 和 10 m 電纜也可用作 HT 電纜 (180 °C)
• 環境溫度 (TAmb)： 5 ...50 °C
• 存儲溫度：-40 ...70 °C
• 相對濕度： 20 - 80%，無結露
• 外殼（尺寸/額定值）： 46 mm x 56 mm x 90 mm/IP 67 (NEMA 4)2)
• 重量： 320g，包括鏡頭
• 沖擊3)： IEC 60068-2-27（25 g 和 50 g）
• 震動3)： IEC 60068-2-6（正弦波形）/IEC 60068-2-64（寬帶噪聲）
• 三腳架： 1/4-20 UNC
• 電源： USB
1) 處于 27 Hz、32 Hz 和 80 Hz 模式
2) 在使用鏡頭保護筒時應用
3) 更多詳情，請參見操作員手冊
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